Advanced Test Methods for SRAMs
Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto/Dilillo, Luigi/Girard, Patrick et al
€106.99
(inklusive MwSt.)
Verfügbarkeit: Besorgungstitel, Festbezug
Weitere Details
Erschienen: 04.11.2009
Umfang: xv, 171 S.
Sprache: ENG
Einband: GEB
ISBN/EAN: 9781441909374
Umbreit-Nr.: 1287137
