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Scanning Microscopy for Nanotechnology

Cover von Scanning Microscopy for Nanotechnology

Techniques and Applications

Weilie Zhou/Zhong Lin Wang

Springer Verlag GmbH

246.09

(inklusive MwSt.)

Verfügbarkeit: Besorgungstitel, Festbezug

Weitere Details

Erschienen: 29.10.2010

Umfang: xiv, 522 S., 399 s/w Illustr., 522 p. 399 illus.

Sprache: ENG

Einband: KT

ISBN/EAN: 9781441922090

Umbreit-Nr.: 1505314

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