Applied Scanning Probe Methods III
Characterization, NanoScience and Technology
€117.69
(inklusive MwSt.)
Verfügbarkeit: Besorgungstitel, Festbezug
Weitere Details
Erschienen: 12.02.2010
Umfang: xliv, 378 S., 268 s/w Illustr., 2 farbige Illustr.
Sprache: ENG
Einband: KT
ISBN/EAN: 9783642065965
Umbreit-Nr.: 1560034
