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Best of New York

Cover von Best of New York

66 Highlights, Best of - 66 Highlights

Jeier, Thomas/Heeb, Christian

Verlagshaus Würzburg GmbH & Co KG

19.95

(inklusive MwSt.)

Verfügbarkeit: Vergriffen, Bestellung abgelegt

Weitere Details

Erschienen: 28.06.2013

Umfang: 140 S., 173 Illustr., 1 Karte

Sprache: Deutsch

Einband: GEB

Format: 1.4 x 30.7 x 24.6 cm

ISBN/EAN: 9783800349005

Umbreit-Nr.: 4321526

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