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Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik

Cover von Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik

Schmidt, Olaf

Examicus Verlag

47.95

(inklusive MwSt.)

Verfügbarkeit: Titel wird für Sie produziert, Festbezug, bitte vormerken

Weitere Details

Erschienen: 18.01.2013

Umfang: 96 S.

Sprache: Deutsch

Einband: KT

Format: 0.8 x 21 x 14.8 cm

ISBN/EAN: 9783867461948

Umbreit-Nr.: 4394593

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