Nanotecnología, Espectroscopia Raman

Zusatztext

En este trabajo se presenta la caracterización microestructural mediante espectroscopia Raman de películas de ZnO intrínseco, dopado con aluminio y co- dopado con aluminio y nitrógeno. Las películas se depositaron usando la técnica de erosión catódica sobre substratos de silicio y vidrio a diferentes temperaturas, variando la concentración de aluminio y la velocidad de flujo de nitrógeno. El análisis de las señales Raman permitió identificar los modos vibracionales del enlace entre el zinc y el oxígeno, y de esta manera diferenciarlos de los modos vibracionales provenientes de la sustitución de zinc por aluminio como resultado de la incorporación de este último (AlZn) y de los producidos por el desplazamiento de los átomos de oxígeno por los de nitrógeno, debido a la difusión de este gas sobre la superficie de las películas (NO). Asimismo, se identificaron otras señales Raman atribuidas a defectos cristalinos debidos a la presencia de Zinc intersticial (Zni).

Autorenportrait

Universidad Tecnológica del Centro de Veracruz. (UTCV) 2013-2015, programa educativo Técnico Superior Universitario en Nanotecnología, Área Materiales. Investigador del Centro de Investigación en Micro y Nanotecnología (MICRONA) de la Universidad Veracruzana, en el desarrollo de películas de óxido de Zinc dopadas con Aluminio y Nitrógeno. 2015

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