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KEPHALOMETRISCHE MESSUNGEN NACH J.A.RAMIREZ CABALLERO

Cover von KEPHALOMETRISCHE MESSUNGEN NACH J.A.RAMIREZ CABALLERO

SPV, SPI, SPM, BA und BP. THEORIE UND GRUNDSÄTZE.

Ramírez Caballero, Jorge A

Verlag Unser Wissen

43.90

(inklusive MwSt.)

Verfügbarkeit: Titel wird für Sie produziert, Festbezug, bitte vormerken

Zusatztext

Die in der Kieferorthopädie und der Zahn-, Mund- und Kiefergelenkorthopädie angewandten Techniken, mit denen bedeutende Veränderungen des Gesichtsaussehens erreicht werden können, können sich je nach Qualität der Behandlungsplanung günstig oder nachteilig auswirken. "Wir können Experten in der Anwendung der neuesten Techniken und Technologien sein, die der "Markt" anbietet, aber sie nützen uns nichts, wenn wir nicht in der Lage sind, eine genaue Diagnose des betreffenden klinischen Falles zu stellen. Diese ist von grundlegender Bedeutung und muss durch geeignete ergänzende Untersuchungen unterstützt werden. Unter diesen ist die Fernröntgenuntersuchung von besonderer Bedeutung. Für eine korrekte Interpretation der Kephalometrie ist es unerlässlich, dass die kephalometrischen Bezugsebenen stabil sind und so wenig wie möglich durch das Wachstum der angrenzenden Kieferknochenstrukturen beeinflusst werden.Ausgehend von diesem zentralen Punkt und nach einem langen Forschungsprozess leiste ich einen Beitrag zur radiologischen Kephalometrie, indem ich verschiedene Messungen vorschlage.

Weitere Details

Erschienen: 16.07.2025

Umfang: 56 S.

Sprache: Deutsch

Einband: KT

Format: 0.4 x 22 x 15 cm

ISBN/EAN: 9786208857653

Umbreit-Nr.: 7148173

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