Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy
Probing the traps in field-effect transistors, SpringerBriefs in Physics
Im, Seongil/Chang, Youn-Gyoung/Kim, Jae Hoon
€49.99
(inklusive MwSt.)
Verfügbarkeit: Besorgungstitel, Festbezug
Weitere Details
Erschienen: 07.05.2013
Umfang: xi, 101 S., 61 s/w Illustr., 101 p. 61 illus.
Sprache: ENG
Einband: KT
ISBN/EAN: 9789400763913
Umbreit-Nr.: 4396540
