Suchergebnisse für "A Benninghoven/J Okano/R Shimizu et al"

Redaktionelle Inhalte

Keine redaktionellen Inhalte für "A Benninghoven/J Okano/R Shimizu et al" gefunden.

Katalogsuche

Cover von Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV

Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19,1983, Springer Series in Chemical Physics 36

A Benninghoven/J Okano/R Shimizu et al

Springer Verlag GmbH

106,99 €

(inklusive MwSt.)

Lieferbar

Jetzt anmelden und immer über Angebote, Neuigkeiten und Aktionen informiert bleiben.