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Advanced Test Methods for SRAMs
Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto/Dilillo, Luigi/Girard, Patrick et al
Springer Verlag GmbH
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Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto/Dilillo, Luigi/Girard, Patrick et al
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Advanced Test Methods for SRAMs
eBook - Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies, Engineering (R0)
Bosio, Alberto/Dilillo, Luigi/Girard, Patrick et al
SPRINGER
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